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    飛納電鏡射擊殘留物分析(GSR)

    更新時間:2019-06-11
    產品型號:Phenom GSR
    所屬分類:高分辨率臺式掃描電鏡
    描述:飛納電鏡射擊殘留物分析(GSR)是在臺式掃描電鏡運行自動射擊殘留物分析軟件。其設計基于飛納臺式掃描電鏡大樣品室版 Phenom XL。軟件和硬件*一體化,以提高用戶操作界面友好性,可靠性和分析速度。Phenom GSR 包括以下三個項目:自動射擊殘留物分析和分類軟件包,BSED 和 EDS 探頭內部集成,校準試樣。
    詳情介紹

      飛納電鏡射擊殘留物分析(GSR)的背散射成像,用來掃描樣品和發現可疑的 “GSR” 顆粒。一旦發現可疑的顆粒,使用能譜(EDS)識別在該粒子中的元素。zui常見的搜索元素為 Pb,Sb 和 Ba。無鉛底火的檢測,例如 Ti 和 Zn 也可為搜索條件進行搜索。

      飛納電鏡射擊殘留物分析(GSR)是在臺式掃描電鏡運行自動射擊殘留物分析軟件。其設計基于飛納臺式掃描電鏡大樣品室版 Phenom XL。軟件和硬件*一體化,以提高用戶操作界面友好性,可靠性和分析速度。Phenom GSR 包括以下三個項目:自動射擊殘留物分析和分類軟件包,BSED 和 EDS 探頭內部集成,校準試樣。

      配備 CeB6 燈絲,使其穩定運行,燈絲壽命不低于 1500 個小時,從可用性,適用性和運行時間的角度來看都非常理想。小于 1 分鐘的加載時間,和快速的全自動馬達樣品臺,使得飛納 GSR 成為高度自動化應用的理想工具,可以用來進行自動射擊殘留物分析。

     

    飛納電鏡射擊殘留物分析 Phenom GSR

    • 基于 CeB6 燈絲的高分辨圖像

    • 直觀易用的 GSR 軟件

    • 高吞吐量,一次性放置多達 36 個試樣

    • 操作簡單,*丟失導航系統,*集成能譜儀

    • 測量結果準確可靠,廣泛兼容法醫領域的各類應用

    規格參數

    光學放大3 - 16 X
    電子光學放大80 - 100,000 X
    分辨率優于 20 nm
    數字放大Max. 12 X
    光學導航相機彩色
    加速電壓4.8 Kv - 20.5 Kv 連續可調
    真空模式

    高分辨率模式

    降低核電效應模式

    高真空模式

    探測器背散射電子探測器

    二次電子探測器 (選配)

    樣品尺寸zui大 100 mm X 100 mm

    可同時裝載 36 個 0.5 英寸樣品臺

    樣品高度zui高 65 mm,樣品高度全自動調節

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